میکروسکوپ نیروی اتمی ( Atomic Force Microscopy ) از جمله تجهیزات پیشرفته آنالیز آزمایشگاهی است که جهت نانولیتوگرافی ، تولید نانو ساختارها ، نانو ماشین کاری ، مطالعه خواص مکانیکی ، سایش ، خراش ، مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطکاک، ناخالصی سطحی، جنس نقاط مختلف سطح،کشسانی، خواص مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی سطحی و قطبیت الکتریکی نقاط مختلف ، برای بررسی ویژگی هایی همچون خوردگی، تمیزی، یکنواختی، زبری، چسبندگی، اصطکاک و ... استفاده می شود.
در میکروسکوپ نیروی اتمی AFM ، نیروی بین سوزن روبشگر و سطح نمونه که باعث خم شدن کانتیلور می شود ، توسط آشکارساز اندازه گیری می شود. میکروسکوپ نیروی اتمی با دو حالت کاری استاتیکی و دینامیکی کار می کند.
محصولات میکروسکوپ نیروی اتمی AFM شرکت های Jeol ، FEI و Hitachi از برترین محصولات میکروسکوپ نیروی اتمی AFM در جهان می باشد که سهم بسیار بزرگی را از بازار فروش تجهیزات high – tech به خود اختصاص داده است.