مشخصات کلی

میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی

  • مدل:  JSM-7800F Prime
  • سازنده: Jeol

 میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدانی Field Emission SEM مدل JSM-7800F Prime محصول شرکت Jeol کشور ژاپن از برترین تولیدکنندگان محصولات میکروسکوپ الکترونی در جهان می باشد که در بسیاری از مراکز علمی ، آزمایشگاهی و صنعتی مورد استفاده قرار می گیرد. لنز سوپر هیبرید جدید (SHL) میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime برای دستیابی به وضوح بالا استفاده می شود. تفنگ الکترونی نوع Schottky تجزیه و تحلیل پایدار با جریان پروب بزرگ را ارائه می دهد.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدلPrime   JSM-7800Fبهترین رزولوشن جهان را با استفاده از جدیدترین پرتو آرام (GBSH) با وضوح عالی ارائه می دهد. علاوه بر این، حداکثر جریان پروب از تفنگ Schottky Plus In-lens از nA 200 به nA 500 افزایش یافته است.

معرفی محصول

میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FESEM مدل JSM-7800F Prime

میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime  رزولوشن بسیار قوی دارد.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime وضوح فوق العاده ای از  0.7 nmدر 15 کیلو ولت وnm    3.0  در 5 کیلوولت را فراهم می کند.

میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime یک میکروسکوپ الکترونی SEM با رزولوشن بالا است که اجازه می دهد تصویربرداری با وضوح فضایی تا 0.5 نانومتر داشته باشد. این ویژگی میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل  JSM-7800F Primeبه خصوص برای آنالیز سطوح حساس و تجزیه و تحلیل مواد حساس به پرتو مفید است. انرژی فرود الکترون ها در میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime می تواند تا 10 ولت کم باشد میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime  دارای تفنگ گسیل میدانی و همچنین مجهز به EDX (اشعه ایکس پراکندگی انرژی) آشکارساز برای تجزیه و تحلیل شیمیایی، STEM (میکروسکوپ الکترونی انتقال اسکن) آشکارساز برای تجزیه و تحلیل فویل نازک و SXES (طیف سنج اشعه ایکس نرم) برای آنالیز اشعه X با انرژی کم (حدود 50-200 EV) می باشد. همچنین می توان از میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime در حالت خلاء کم استفاده کرد.

ویژگی ها

ویژگی های میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime

  • لنز Schottky بعلاوه تفنگ الکترونی

روشنایی بیشتر با بهینه سازی ترکیبی از تفنگ الکترونی و لنز کندانسور با انحراف کم در میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM به دست می آید. پروب جریان از چند پیکو آمپر تا ده ها نانو آمپر حتی با ولتاژ شتاب دهنده پایین با کارآیی جمع آوری الکترون ها تولید شده توسط تفنگ میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime به دست می آید. این امکان برای مشاهدات با وضوح بالا و همچنین نقشه برداری عنصری با سرعت بالا و EBSD در مقیاس نانو، با امکان نگه داشتن کوچکترین دیافراگم شیئی در میکروسکوپ الکترون روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime انجام می شود.

  • مشاهده سطح با استفاده ازپرتو آرام فوق العاده با وضوح بالا  ( GBSH )

پرتو آرام (GB) بهبود یافته است تا ولتاژهای بالاتری را به نمونه اعمال کند، تصاویر با وضوح بالا با ولتاژ شتاب کم توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime فراهم می شود. GBSH به شما این امکان را می دهد که ولتاژ شتاب را به بهترین شکل که برای برنامه کاربردی مناسب است انتخاب کنید. از مشاهدات سطح نمونه تا تجزیه و تحلیل عناصر نانو توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime امکان پذیر می باشد.

  • تصویربرداری بالاترین سطح

با استفاده از ولتاژ بایاس به نمونه (GB)، سرعت الکترونهای تصادفی در حال کاهش است و سرعت الکترون ها آزاد شده افزایش می یابد. تصاویر با وضوح بالا با نسبت سیگنال به نویز خوب حتی با انرژی کم توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل JSM-7800F Prime ارائه می شود. اگر از حالت GB استفاده شود ، اجازه می دهد ولتاژ بایاس بالاتر اعمال شود و می توان مشاهدات با وضوح بالاتر را انجام داد.

  • دريافت تمام اطلاعات با استفاده از چندين آشکارساز

میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FESEM مدل JSM-7800F Prime دارای 4 نوع آشکارساز شامل یک آشکارساز الکترونی بالایی (UED)، آشکارساز الکترونی ثانویه (USD)، آشکارساز الکترون بازگشتی (BED) و یک آشکارساز الکترونی پایین (LED) است. برای UED، الکترون الکترون ثانویه و الکترونی بازگشتی می تواند با توجه به ولتاژ فیلتر تغییر داده شود، بنابراین می توان انرژی الکترون را انتخاب کرد. آشکارساز الکترونی ثانویه (USD) الکترونهای کم انرژی را که از فیلتر خارج می شوند تشخیص می دهد. با استفاده از BED، کانال کنتراست را با تشخیص الکترون بازگشتی با زاویه کم می توان به وضوح مشاهده کرد.

مشخصات فنی

مشخصات فنی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM  مدل JSM-7800F Prime

رزولوشن میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

0.7 nm (15 kV)
0.7 nm (1 kV)
3.0 nm (5 kV、WD10 mm、5 nA)

ولتاژ شتاب دهنده میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

0.01 kV to 30 kV

جریان پروب میکروسکپ الکترونی روبشی FE-SEM

Several pA to 200 nA

بزرگنمایی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

× 25 to × 1,000,000

تفنگ الکترونی میکروسکوپ الکترون روبشی SEM

In-lens Schottky field-emission gun

کنترل زاویه دیافراگم میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

Built-in

آشکارساز میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

Upper Electron Detector(UED)

Lower Electron Detector(LED)

 

فیلتر آنرژی میکروسکپ الکترونی روبشی SEM

UED Filter Voltage Change Function built-in

پرتو آرام میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM

Built-in

نمایش تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM

Image display area 1,280 x 960-pixel, 800 x 600 pixel

دیافراگم لنز شیئی میکروسکپ الکترون روبشی SEM

5-axis motor drive stage
Full eucentric goniometer stage

عملکرد اتوماتیک میکروسکوپ الکترونی روبشی FE-SEM

Focus, Stigmator, Brightness, Contrast

استیج نمونه میکروسکوپ الکترون روبشی SEM

Fully eucentric goniometer stage

X

Y

WD (Z)

Tilt

Rotation

70 mm

50 mm

2 mm to 25 mm

-5 to +70°

360°

کاربردها

کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FESEM مدل JSM-7800F

  • تهیه تصاویر میکروسکوپی با بزرگنمایی و قدرت تفکیک (Resolution) بالا در حد نانومتر توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FESEM مدل JSM-7800F Prime
  • تهیه آنالیز نیمه کمی توسط آنالایزر EDS برای عناصر بالاتر از بور (B) و نمونه های مجهول میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FESEM مدل JSM-7800F Prime
  • تهیه آنالیز منطقه ای ، آنالیز نقطه‌ای (Spot) ، آنالیز خطی (Line Scan) و آنالیز صفحه‌ای (Map) توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime
  • تعیین جنس و ضخامت پوشش های چند لایه با ضخامت کمتر از (1µm) توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی انتشار میدانی FE-SEM مدل JSM-7800F Prime
  • تهیه تصاویر با ولتاژ پایین جهت نمونه‌های بیولوژیکی، پلیمری و اطلاعات سطحی نمونه‌ها توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime
  • تهیه تصاویر سه بعدی از نمونه‌ها توسط میکروسکپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime
  • شکست نگاری و بررسی مورفولوژی انواع نمونه‌ها (پودری،بالک و غیره) توسط میکروسکوپ الکترون روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime
  • تعیین اندازه ذرات پودرها در ابعاد نانومتر توسط میکروسکپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime

امکان انجام آنالیز تصویری از نمونه‌های خاص توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل JSM-7800F Prime

دانلودها

دانلود کاتالوگ فارسی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل Prime JSM-7800F

اسپکترومتر-uv-vis

دانلود کاتالوگ انگلیسی میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM مدل Prime JSM-7800F

اسپکترومتر-uv-vis

محصولات مرتبط

عنوان نظر :
نام شما :
ایمیل :
10 / 10
از 1 کاربر