مشخصات کلی

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

مدل: AFM5500M
سازنده: HITACHI

میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscope ساخت شرکت HITACHI ابزار کاملی است که از آن جهت بررسی توپوگرافی سطوح و مطاله نیروهای سطحی استفاده میشود. دستگاه آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی یک پلت فرم دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی SPM است که برای نمونه های سایز متوسط کاربرد دارد. این امر باعث می شود، سهولت استفاده، دقت بالا، در بررسی سطوح داشته باشیم. دستگاه آنالیز دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی | میکروسکوپ نیروی اتمیAtomic Force Microscope AFM/SPM مدل AFM5500M یک دستگاه مطمئن در هر آزمایشگاهی برای انجام آنالیز است و بسیاری از نیازها را بر طرف می کند.

تمامی این ویژگی ها به همراه خدمات دستگاه میکروسکوپ پرابی روبشی SPM مدل AFM5500M که به واسطه ی شرکت HITACHI در سراسر دنیا انجام می گیرد، خرید دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M ، این شرکت را به گزینه ای بی رقیب تبدیل کرده است. برای اطلاع از قیمت دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SEM ) مدل AFM5500M با شماره درج شده در سایت تماس حاصل فرمایید.

معرفی محصول

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی AFM ) AFM5500M)
دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی - میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscope) ساخت شرکتHITACHI ابزار کاملی است که از آن جهت بررسی توپوگرافی سطوح و مطاله نیروهای سطحی استفاده میشود. دستگاه آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی یک پلت فرم دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی SPM است که برای نمونه های سایز متوسط کاربرد دارد. این امر باعث می شود، سهولت استفاده، دقت بالا، در بررسی سطوح داشته باشیم. دستگاه آنالیز دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی | میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscope - AFM/SPM مدل AFM5500M یک دستگاه مطمئن در هر آزمایشگاهی برای انجام آنالیز است و بسیاری از نیازها را بر طرف می کند.

تمامی این ویژگی ها به همراه خدمات دستگاه میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M که به واسطه ی شرکت HITACHI در سراسر دنیا انجام می گیرد، خرید دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M ، این شرکت را به گزینه ای بی رقیب تبدیل کرده است. برای اطلاع از قیمت دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SEM ) مدل AFM5500M با شماره درج شده در سایت تماس حاصل فرمایید.

ویژگی های دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM) مدل AFM5500M

کاربری ساده

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M بسیار کاربرپسند است و عملا عملیات AFM را ساده تر کرده است، این دستگاه AFM نوک پهن و بازی داشته و قابلیت دربرگیری نمونه را دارد. قابلیت جایگیری نمونه 4 اینچی دستگاه آنالیز AFM نیاز به چرخش نمونه را از بین می برد. دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M دارای عملکرد Point-and-click امکان جستجوی ساده و سریع دوربین مبتنی بر نمونه را فراهم سخته است. تمام لوازم جانبی دستگاه میکروسکوپ SPM امکان سوئچینگ حالت نرم افزرای را فراهم می کند. میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

اتوماسیون دستگاه

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M دارای یک سیستم اتوماسیون است که با تصویربرداری AFM ساده تر و سریع تر و دقیقتر عمل می کند. این دستگاه میکروسکوپی قابلیت تبادل cantilever را داراست. دستگاه AFM ( SPM ) قابلیت تنظیم لیزر را دارد. دستگاه میکروسکوپ AFM قابلیت بهینه سازی خودکار تصاویر را داراست. محصول میکروسکوپ نیروی اتمی AFM قابلیت اندازه گیری طبق یک دستورالعمل را داراست.

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

دقت بالای دستگاه

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M دقت بالایی در اندازه گیری انالیز AFM را دارد. طراحی منعطف این دستگاه AFM قابلیت اسکن عالی سزوح مسطح و اوتوگونال را فراهم می کند. محصول میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M با داشتن اسکنر Closed-loop قابلیت تصویربرداری بسیار دقیق را فراهم می کند. دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی AFM با حسگر حساس به نویز، نتایج بسیار دقیق و با کیفیت را فراهم می کند. دستگاه آنالیز میکروسکوپ پروبی روبشی با قابلیت ارزیابی نوک سوزن، توانایی تضمین کیفیت پروب و تصاویر بدون دستکاری را فراهم می کند.

قابلیت اسکن FLAT

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M با یک اسکنر تیوب پیزوالکتریک قابلیت بررسی سطوح صاف و فلت و یا طبقه ای را دارد. با این حال فلت کردن ممکن است میکروساختار سطح نمونه را از جمله مقدار Z ( زبری سطح ) را تغییر دهد. دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M با یک اسکنر منعطف قابلیت اسکن جهات X و Y را دارد. این طراحی اسکنر پیشرفته قابلیت حذف منحنی های پس زمینه در یک ناحیه اسکن گسترده را دارد و می تواند دقت اندازه گیری آنالیز AFM را بهبود ببخشد.

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

اورتوگنالیتی بالا

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M با استفاده از یک اسکنر تیوب پیزوالکتریک می تواند سطوح و مقاطع منحنی را اسکن کند. سطوح تقاطعی باعث ایجاد انحراف و عدم تقارن می شود که با اسکنر بهبود یافته دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M باعث کاهش حجم متقاطع می شود که اندازه گیری دقیق و متقارن امکانپذیر است.

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

همبستگی

تصویر برداری همبستگی SEM و AFM

دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5500M دارای ابزار هماهنگی SEM و AFM است قابلیت اندازه گیری و تجزیه و تحلیل سریع و آسان توپوگرافی، ساختار و ترکیب و خواص سطوح را دارد.

میکروسکوپ نیروی اتمی AFM

اندازه گیری AFM و SEM از سطوح

مشخصات فنی

مشخصات فنی دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM) مدل AFM5500M

AFM5500M دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی
Stage	Automated, fully addressable 100 mm (4 inch) stage Travel range: XY ±50 mm (2 inch), Z ≥21 mm Minimum step size: XY 2 µm, Z 0.04 µm
Sample Size	Diameter：100 mm (4 inch) Thickness： 20 mm Weight： 2 kg
Scan Range	200 µm x 200 µm x 15 µm (XY: Closed loop control, Z: Displacement sensor)
RMS Noise Level*	≤0.04 nm (High-resolution mode)
Repeatability*	XY: ≤15 nm(3σ, measuring 10 µm pitch)/Z: ≤1 nm (3σ, measuring 100 nm depth)
XY Orthogonality	±0.5°
Bow*	≤2 nm/50 µm
Detection	Optical lever (Low-coherence light)
Top-viewOptical Microscope	Zoom magnification: x1 ～ x7 Field of vision: 910 µm x 650 µm ～130 µm x 90 µm Monitor magnification: x465 ～ x3255 (27 inch monitor)
Anti-vibration	Desktop active anti-vibration 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H), approximately 28kg
Soundproof Cover	750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H), approximately 237 kg
Size	400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H), approximately 90 kg

* System performance depends on installation environment and its configuration.

AFM5500M Exclusive Probe Station
OS	Windows7
RealTune® II	Automatic tuning of cantilever amplitude (DFM), contact force, scan speed, and feedback gains (Various tuning modes including Auto, Fast, Soft, Rough, and Point)
Various Functions	Operating instructions; Tab structure (Measurement/ Analysis); Measurement area indicator/ Measurement area tracking window; Batch processing; and Tip calibration
Operating Voltage	0～150 V
Multi Channel (Data Points)	4 channels (max. 2048 x 2048) 2 channels (max. 4096 x 4096)
Rectangular Scan	2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1,024:1
Analysis Software	3D display and overlay, Roughness, Cross-section, Average cross-section
Automated Functions	Automated cantilever exchange and laser alignment
Size	340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H), approximately 34 kg
Power Supply	AC 100～240 V ±10%
Measurement Modes	AFM(contact mode), DFM (tapping mode), PM, FFM, LM-FFM, VE-AFM, Adhesion, Current, Pico-Current, SSRM, PRM, KFM, EFM（AC), EFM（DC), MFM, SIS-Topography, SIS-Property

* WINDOWS is a registered trademark of Microsoft Corporation in the United States and other countries.
* RealTune is a registered trademark of Hitachi High-Tech Science Corporation in Japan, the United States, and the European Union.

Optional:AFM and SEM shared alignment sample holder
Compatible Hitachi SEM	SU8240, SU8230 (H36 mm), SU8220 (H29 mm)
Sample Holder Size	41 mm(W) x 28 mm(D) x 16 mm(H)
Sample Size	Φ20 mm x 7 mm
Alignment Accuracy	±10 µm (AFM alignment accuracy)