دستگاه فلورسانس اشعه ایکس (XRF ) مدل EA1200VX
دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( X-RAY Fluorescence Spectroscopy )ساخت شرکتHITACHI ابزار کاملی است که از آن جهت بررسی عناصر و مواد مختلف مورد استفاده قرار میگیرد. در دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس، اشعه ایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلف اتم، اشعه ایکس تولید می شود که با تعیین طول موج یا انرژی اشه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است، می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. دستگاه آنالیز فلورسانس اشعه ایکس مدل EA1200VX یک دستگاه مطمئن در هر آزمایشگاهی برای انجام آنالیز است و بسیاری از نیازها را بر طرف
می کند. دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX با کاهش زمان اندازه گیری به میزان یک سوم نسبت به مدل قبلی بهتر است. همچنین نرم افزار کنترل دقت دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX که برای مدل های قبلی به صورت آپشنال بود، در حال حاضر استاندارد است که باعث بهینه سازی هزینه ها می شود.
تمامی این ویژگی ها به همراه خدمات دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX که به واسطه ی شرکت HITACHI در سراسر دنیا انجام می گیرد، خرید دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX، از این شرکت را به گزینه ای بی رقیب تبدیل کرده است. برای اطلاع از قیمت دستگاه طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX با شماره درج شده در سایت تماس حاصل فرمایید.
ویژگی های دستگاه فلورسانس اشعه ایکس (XRF ) مدل EA1200VX
دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX ، باعث سرعت بخشیدن به زمان اندازه گیری آنایز شده که برای نمونه های فلزی یک دهم و برای نمونه های پلاستیکی یک سوم زمان نسبت به مدل معمولی SEA1200AII کاهش یافته است. این امر باعث افزایش عمق بیشتر می شود.
توجه: زمان اندازه گیری کل به عنوان زمان مورد نیاز برای رسیدن به حد تشخیص 20ppm برای Cd و 100ppm برای عناصر دیگر ( که تحت شرایط توصیه شده High Tech فن آوری هیتاچی اندازه گیری می شود ) تعریف می شود.
|
Cd, Pb, Hg, Br, Cr
in plastics
|
Cd, Pb, Hg, Cr
in high concentration BrSb plastics
|
Cd, Pb, Hg, Br, Cr
in brasses
|
|
EA1200VX
|
Approximately 30 sec
|
Within 120 sec
|
Within 200 sec
|
|
SEA1000AII
|
Approximately 100 sec
|
Within 360 sec
|
More than 2,000 sec
|
Table.1 Measurement time using the EA1000VX and SEA1000AII.
دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1000VX با سرعت سنجش سریع "Vortex" تجهیز شده است که با سرعت 150000 CPS شناسایی می کند و نیازی به LN2 ندارد و در نتیجه رد سطح بی سابقه ای از دقت و حساسیت قرار دارد.
نسخه جدید نرم افزار با قابلیت اندازه گیری مواد خطرناک
دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX به سرعت مواد مختلف انواع نمونه ها را شناسایی می کند. و این دستگاه XRF بدون نیاز به دستور العمل تحلیلی می تواند به طور خودکار یک ماده را شناسایی کند.
کاربر دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX می تواند وضعیت اندازه گیری را از طریق نوار پیشرفت در پنل عملیات و نیز شاخص های صدا کنترل کند.
مواد مرجع استاندارد برای مقررات محیط زیستی مختلف ( اختیاری )
در دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX، انواع نمونه های مرجع استاندارد توسعه یافته و تولید شده و در دسترس هستند. اینها نه تنها بر ای عناصر منحصر همچون (Cd، Pb، Hg، Br و Cr) ، بلکه برای عناصر دیگر مانند کلر و آنتیموان و قلع و ... وجود دارد.
قابلیت تغییر نمونه ( اختیاری )
در دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX، قابلیت تغییر مداوم نمونه ها تا 12 نمونه وجود دارد.
مدیریت داده ها با Hazardous Substance Measurement Software Ver.2
در دستگاه آنالیز طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس ( XRF ) مدل EA1200VX، نرم افزار توانایی مدیریت داده ها ( بازیابی، مرور، تجزیه و تحلیل، ویرایش، چاپ و ... ) با یک یا چند ابزار را دارد و امکان کاهش قیمت و افزایش کارایی را دارد.
