توضیحات دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی AFM ) AFM5100N)
دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی | میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscope ساخت شرکتHITACHI ابزار کاملی است که از آن جهت بررسی توپوگرافی سطوح و مطالعه نیروهای سطحی استفاده میشود. دستگاه آنالیز میکروسکوپ نیروی اتمی یک پلت فرم دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی SPM است که برای نمونه های سایز متوسط کاربرد دارد. این دستگاه میکروسکوپ AFM سهولت استفاده، آشکارساز حساس و با سخت افزار پیشرفته، بدون نیاز به هماهنگی لیزر و آشکارساز طیف گسترده ای از کاربردها را در بر میگیرد. دستگاه آنالیز دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی | میکروسکوپ نیروی اتمی ( Atomic Force Microscope ) AFM/SPM مدل AFM5100N یک دستگاه مطمئن در هر آزمایشگاهی برای انجام آنالیز است و بسیاری از نیازها را بر طرف می کند. دستگاه آنالیز دستگاه میکروسکوپ پروبی روبشی | میکروسکوپ نیروی اتمی ( Atomic Force Microscope ) AFM/SPM مدل AFM5100N به عنوان یک سیستم کامل برای حمایت از اندازه گیری AFM با رزولویشن بالا و چند منظوره طیف گسترده ای از حالت های پیشرفته را ارائه می دهد و همچنین دارای اسکنر هوشمند نمونه گیری اختصاصی است که ناتوانی دستگاه های قبلی را برطرف می کند.
تمامی این ویژگی ها به همراه خدمات دستگاه میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5100N که به واسطه ی شرکت HITACHI در سراسر دنیا انجام می گیرد، خرید دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5100N ، این شرکت را به گزینه ای بی رقیب تبدیل کرده است. برای اطلاع از قیمت دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5100N با شماره درج شده در سایت تماس حاصل فرمایید.
ویژگی های دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM) مدل AFM5100N
- راه اندازی و نصب ساده و آسان
در دستگاه های میکروسکوپ AFM نصب اهرم های معمولی بسیار کوچک و دشوار است، اما اهرم این دستگاه دارای سنسور بزرگ است و نصب ان آسان است. همچنین با روش تشخیص لنز اپتیک نیاز به تنظیم محور نیست.
- تعیین موقعیت دقیق توسط pin-point type cantilever
دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5100N قابلیت تعیین موقعیت دقیق نقاط اندازه گیری را به دلیل داشتن pin-point type cantilever دارد. همچنین امکان دستیابی به وضوح و رزولویشن بالا بوسیله تیزکردن پراب وجود دارد.
- عملکرد ساده با سیستم Navigation
در دستگاه میکروسکوپ نیروی اتمی | میکروسکوپ پرابی روبشی ( SPM ) مدل AFM5100N هر اپراتوری می تواند با استفاده از سیستم Navigation به وضوح بالا دست یابد. علاوه بر این به صورت مستقیم سختی یا زبری نمونه را به راحتی می توان اندازه گیری کرد.
سایز کوچک برای بکارگیری فضای کارامد و منعطف و عملکرد فوق پیشرفته
عملکردهای مختلف را می توان با افزودن روش تنظیم محور اپتیکی گسترش داد. همچنین با قرار دادن یک کابل روش اهرم را می توان تغییر داد.
